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ESD測(cè)試儀其實(shí)是一款靜電放電發(fā)生器，靜電是由兩種不同物質(zhì)的互相摩擦，通過正負(fù)電荷積蓄在相互摩擦的兩個(gè)物體而形成高電壓。人造纖維和塑料是常見的摩擦起電材料，當(dāng)摩擦產(chǎn)生電壓后，就會(huì)出現(xiàn)ESD問題。對(duì)于電子元器件來說，靜電能量是不能忽視的，它可以擊穿半導(dǎo)體元件，從而破壞電子電路。

通常ESD測(cè)試儀通過兩種主要方式產(chǎn)生EMC問題：即傳導(dǎo)方式和輻射干擾方式。

（1）傳導(dǎo)方式。靜電放電電流直接流過電路中，因?yàn)镋SD產(chǎn)生很高的電壓，如果進(jìn)入到半導(dǎo)體，就可能產(chǎn)生誤操作，并且很容易破壞半導(dǎo)體器件，現(xiàn)代半導(dǎo)體元器件的內(nèi)部絕緣常常會(huì)在幾十伏電壓下?lián)舸┎⑶矣谰枚搪?，這是一個(gè)很嚴(yán)重的ESD問題，日常生活中這個(gè)問題是普遍存在的。

（2）輻射干擾。當(dāng)靜電放電時(shí)（可用靜電放電測(cè)試儀模擬測(cè)試），產(chǎn)生的火花電壓會(huì)產(chǎn)生輻射磁場(chǎng)和電場(chǎng)。磁場(chǎng)能夠在附近電路的各個(gè)信號(hào)環(huán)路中感應(yīng)出噪聲電壓。由于在很短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生了較大的靜電電流，所以在信號(hào)環(huán)路中產(chǎn)生的噪聲電壓可能會(huì)超過邏輯元器件的閾值電平，引起元器件的誤觸發(fā)。

在電路中，因?yàn)槿梭w靜電產(chǎn)生的ESD問題是最常見的。干燥氣候環(huán)境下人體ESD的電壓很容易超過8kV、15kV甚至20kV，因此我們需要重視這樣的靜電電壓對(duì)PCB及元器件的影響，并采取相應(yīng)措施防止ESD問題。